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波長色散X射線熒光光譜儀的優(yōu)點闡述

點擊次數(shù):2718  更新時間:2020-06-05
波長色散X射線熒光光譜儀的優(yōu)點闡述
波長色散X射線熒光光譜儀,采用了新技術(shù)設(shè)計的固態(tài)發(fā)生器、新技術(shù)設(shè)計的高電流低溫X射線光管、當(dāng)前電子技術(shù)新設(shè)計的電路板、新開發(fā)的高強度晶體等,使X射線熒光光譜儀對元素的分析產(chǎn)生了突破,在靈敏度、準確度、精密度、安全性、操作簡便性、可靠性、分析速度、功能完備的分析軟件等方面,把XRF分析技術(shù)又一次推向新的階段。
X射線或其他光子源激發(fā)待測物質(zhì)中的原子,使之產(chǎn)生熒光(次級X射線)。從而進行物質(zhì)成分分析的儀器。X射線熒光光譜儀又稱XRF光譜儀,有色散型和非色散型兩種。色散型又分為波長色散型和能量色散型。波長色散型XRF光譜儀由X射線管激發(fā)源,分光系統(tǒng),探測器系統(tǒng),真空系統(tǒng)和氣流系統(tǒng)等部分組成。根據(jù)分析晶體的聚焦幾何條件不同,分為非聚焦反射平晶式,半聚焦反射彎晶式,全聚焦反射彎晶式,半聚焦透射彎晶式等。其原理是:試樣受X射線照射后,元素的原子內(nèi)殼層電子被激發(fā),并產(chǎn)生殼層電子躍遷而發(fā)射出該元素的特征X射線,通過探測器測量元素特征X射線的波長(能量)的強度與濃度的比例關(guān)系,便可進行定量分析。
波長色散X射線熒光光譜儀是利用原級X射線或其他光子源激發(fā)待測物質(zhì)中的原子,使之產(chǎn)生熒光(次級X射線)。從而進行物質(zhì)成分分析的儀器。X射線熒光光譜儀又稱XRF光譜儀,有色散型和非色散型兩種。它的優(yōu)點是不破壞樣品,分析速度快,適用于測定原子序數(shù)4以上的所有化學(xué)元素,分析精度高,樣品制備簡單。
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